Visningssätt för begreppens/termernas förhållanden:
Det sätt begreppsrelationer visas:
Det sätt begreppsrelationer visas:
Atomkraftmikroskopi
Hierarki: | ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Atomkraftmikroskopi 1 sidobegrepp∟ ∟ ∟ ∟ Atomkraftmikroskopi 1 sidobegrepp∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Atomkraftmikroskopi 1 sidobegreppX |
Bredare villkor: | |
Anmärkning: | |
Anmärkning: | A type of scanning probe microscopy in which a probe systematically rides across the surface of a sample being scanned in a raster pattern. The vertical position is recorded as a spring attached to the probe rises and falls in response to peaks and valleys on the surface. These deflections produce a topographic map of the sample.
X |
historyNote*: | 95
X |
publicMeSHNote*: | 95
X |
activeMeSHYear*: | |
dateCreated*: | 1994-04-16X |
dateEstablished*: | 1995-01-01X |
dateRevised*: | 2004-07-07X |
recordAuthorizer*: | sjnX |
recordMaintainer*: | nnsX |
recordOriginator*: | PXPX |
Relaterad term: | |
Typ: | |
Samordna villkor: | |
URI: | |
Termer och motsvarande begrepp: | Atomivoimamikroskopia (fi) XMikroskopi, atomkraft (sv, ersatt) Microscopy, Atomic Force (en) Scanning Force Microscopy (en, ersatt) Force Microscopy (en, ersatt) Atomic Force Microscopy (en, ersatt) |
Dela: |
Laddar resultat...