Esitystapa käsitteiden/termien suhteille:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Koetinpyyhkäisymikroskopia
Hierarkia: | ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Koetinpyyhkäisymikroskopia 10 vieruskäsitettä2 alakäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Koetinpyyhkäisymikroskopia 10 vieruskäsitettä2 alakäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Koetinpyyhkäisymikroskopia 10 vieruskäsitettä2 alakäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ |
Laajemmat termit: | |
Suppeammat termit: | |
historyNote*: | 2000; use MICROSCOPY, ATOMIC FORCE 1999
X |
Huomautus: | Microscopy, Atomic Force (1999)X |
Huomautus: | Scanning microscopy in which a very sharp probe is employed in close proximity to a surface, exploiting a particular surface-related property. When this property is local topography, the method is atomic force microscopy (MICROSCOPY, ATOMIC FORCE), and when it is local conductivity, the method is scanning tunneling microscopy (MICROSCOPY, SCANNING TUNNELING).
X |
publicMeSHNote*: | 2000; see MICROSCOPY, ATOMIC FORCE 1999
X |
activeMeSHYear*: | |
dateCreated*: | 1999-11-03X |
dateEstablished*: | 2000-01-01X |
dateRevised*: | 2004-07-07X |
recordAuthorizer*: | sjnX |
recordMaintainer*: | nnsX |
recordOriginator*: | agsX |
Tyyppi: | |
Vierustermit: | |
URI: | |
Nimikkeet ja vastaavat käsitteet: | Microscopy, Scanning Probe (en) XScanning Probe Microscopy (en, korvattu) |
Jaa: |
Ladataan tuloksia...