Esitystapa käsitteiden/termien suhteille:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Sekundaarinen ionimassaspektrometria
Hierarkia: | ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Sekundaarinen ionimassaspektrometria 5 vieruskäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ Sekundaarinen ionimassaspektrometria 5 vieruskäsitettäX |
Laajemmat termit: | |
Annotaatio: | for SIMS microscopy, coordinate with type of microscopy
X |
historyNote*: | 95
X |
Huomautus: | Spectrum Analysis, Mass (1976-1994)X |
Huomautus: | A mass-spectrometric technique that is used for microscopic chemical analysis. A beam of primary ions with an energy of 5-20 kiloelectronvolts (keV) bombards a small spot on the surface of the sample under ultra-high vacuum conditions. Positive and negative secondary ions sputtered from the surface are analyzed in a mass spectrometer in regards to their mass-to-charge ratio. Digital imaging can be generated from the secondary ion beams and their intensity can be measured. Ionic images can be correlated with images from light or other microscopy providing useful tools in the study of molecular and drug actions.
X |
publicMeSHNote*: | 95
X |
activeMeSHYear*: | 2007X |
dateCreated*: | 1994-05-12X |
dateEstablished*: | 1995-01-01X |
dateRevised*: | 2006-07-05X |
recordAuthorizer*: | sjnX |
recordMaintainer*: | nnsX |
recordOriginator*: | PXPX |
Tyyppi: | |
Vierustermit: | |
URI: | |
Nimikkeet ja vastaavat käsitteet: | Sekundaarinen ionimassaspektrografia (fi, korvattu) XSpectrometry, Mass, Secondary Ion (en) SIMS Microscopy (en, korvattu) Spectroscopy, Mass, Secondary Ion (en, korvattu) Secondary Ion Mass Spectroscopy Microscopy (en, korvattu) Secondary Ion Mass Spectroscopy (en, korvattu) Mass Spectroscopy, Secondary Ion (en, korvattu) Secondary Ion Mass Spectrometry (en, korvattu) Secondary Ion Mass Spectrometry Microscopy (en, korvattu) Mass Spectrometry, Secondary Ion (en, korvattu) |
Jaa: |
Ladataan tuloksia...