Esitystapa käsitteiden/termien suhteille:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Atomivoimamikroskopia
Hierarkia: | ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Atomivoimamikroskopia 1 vieruskäsite∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Atomivoimamikroskopia 1 vieruskäsite∟ ∟ ∟ ∟ Atomivoimamikroskopia 1 vieruskäsiteX |
Laajemmat termit: | |
historyNote*: | 95
X |
Huomautus: | |
Huomautus: | A type of scanning probe microscopy in which a probe systematically rides across the surface of a sample being scanned in a raster pattern. The vertical position is recorded as a spring attached to the probe rises and falls in response to peaks and valleys on the surface. These deflections produce a topographic map of the sample.
X |
publicMeSHNote*: | 95
X |
activeMeSHYear*: | |
dateCreated*: | 1994-04-16X |
dateEstablished*: | 1995-01-01X |
dateRevised*: | 2004-07-07X |
recordAuthorizer*: | sjnX |
recordMaintainer*: | nnsX |
recordOriginator*: | PXPX |
Rinnakkaistermi: | |
Tyyppi: | |
Vierustermit: | |
URI: | |
Nimikkeet ja vastaavat käsitteet: | Atomkraftmikroskopi (sv) XMikroskopi, atomkraft (sv, korvattu) Microscopy, Atomic Force (en) Scanning Force Microscopy (en, korvattu) Force Microscopy (en, korvattu) Atomic Force Microscopy (en, korvattu) |
Jaa: |
Ladataan tuloksia...