Esitystapa käsitteiden/termien suhteille:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Elektronikoetinmikroanalyysi
Hierarkia: | ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronikoetinmikroanalyysi 4 vieruskäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronikoetinmikroanalyysi 4 vieruskäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronikoetinmikroanalyysi 4 vieruskäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronikoetinmikroanalyysi 4 vieruskäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronikoetinmikroanalyysi 4 vieruskäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronikoetinmikroanalyysi 4 vieruskäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronikoetinmikroanalyysi 4 vieruskäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ |
Laajemmat termit: | |
Annotaatio: | DF: ELECTRON PROBE MICROANAL
X |
historyNote*: | 70(67)
X |
Huomautus: | |
Huomautus: | Identification and measurement of ELEMENTS and their location based on the fact that X-RAYS emitted by an element excited by an electron beam have a wavelength characteristic of that element and an intensity related to its concentration. It is performed with an electron microscope fitted with an x-ray spectrometer, in scanning or transmission mode.
X |
publicMeSHNote*: | 70
X |
activeMeSHYear*: | |
dateCreated*: | 1999-01-01X |
dateEstablished*: | 1970-01-01X |
dateRevised*: | 2004-07-07X |
recordAuthorizer*: | sjnX |
recordMaintainer*: | nnsX |
recordOriginator*: | NLMX |
Tyyppi: | |
Vierustermit: | |
URI: | |
Nimikkeet ja vastaavat käsitteet: | Elektronsondmikroanalys (sv) XElectron Probe Microanalysis (en) X-Ray Emission Spectrometry, Electron Probe (en, korvattu) X-Ray Emission Spectrometry, Electron Microscopic (en, korvattu) X-Ray Microanalysis (en, korvattu) X-Ray Microanalysis, Electron Microscopic (en, korvattu) X-Ray Microanalysis, Electron Probe (en, korvattu) X Ray Emission Spectrometry, Electron Probe (en, korvattu) X Ray Emission Spectrometry, Electron Microscopic (en, korvattu) Spectrometry, X Ray Emission, Electron Microscopic (en, korvattu) Microscopy, Electron, X-Ray Microanalysis (en, korvattu) Spectrometry, X Ray Emission, Electron Probe (en, korvattu) Spectrometry, X-Ray Emission, Electron Microscopic (en, korvattu) Spectrometry, X-Ray Emission, Electron Probe (en, korvattu) Microanalysis, Electron Probe (en, korvattu) |
Jaa: |
Ladataan tuloksia...