Esitystapa käsitteiden/termien suhteille:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Näytä käsitteiden/termien suhteet:
Elektronimikroskopia
Hierarkia: | ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronimikroskopia 10 vieruskäsitettä5 alakäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronimikroskopia 10 vieruskäsitettä5 alakäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ Elektronimikroskopia 10 vieruskäsitettä5 alakäsitettä∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ ∟ |
Laajemmat termit: | |
Suppeammat termit: | |
Annotaatio: | GEN: prefer specifics; relation to /ultrastruct: Manual 26.12.1
X |
Huomautus: | Microscopy using an electron beam, instead of light, to visualize the sample, thereby allowing much greater magnification. The interactions of ELECTRONS with specimens are used to provide information about the fine structure of that specimen. In TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY the reactions of the electrons that are transmitted through the specimen are imaged. In SCANNING ELECTRON MICROSCOPY an electron beam falls at a non-normal angle on the specimen and the image is derived from the reactions occurring above the plane of the specimen.
X |
activeMeSHYear*: | |
dateCreated*: | 1999-01-01X |
dateRevised*: | 2004-07-28X |
recordAuthorizer*: | jlsX |
recordMaintainer*: | jlsX |
recordOriginator*: | NLMX |
Tyyppi: | |
Vierustermit: | |
URI: | |
Nimikkeet ja vastaavat käsitteet: | EM (fi, korvattu) XElektronmikroskopi (sv) Mikroskopi, elektron (sv, korvattu) Microscopy, Electron (en) Electron Microscopy (en, korvattu) Electronmicroscopia (la-FI, korvattu) |
Jaa: |
Ladataan tuloksia...